開催報告

第33回日本NCSLI 技術フォーラム開催報告

2025年10月23日（木）東京都品川区のきゅりあん（品川区立総合区民会館）にて、第33回日本NCSLI 技術フォーラムが開催されました。

今回、講演会では、本技術フォーラムの後援でもある国立研究開発法人産業技術総合研究所の講演をはじめとする7つのテーマの講演、展示会には計測器メーカーほか12社からの出展、校正機関ほか計測関連3団体のカタログ展示が行われ、137名にご参加いただきました。

また、講演会の後には昨年に引き続き懇親会も開催され、多くの参加者の皆様が交流や懇親の場を楽しまれました。

今回も講演者、参加者、運営協力者の皆様のご協力により成功裡に終えることができましたこと、この場を借りて御礼申し上げます。

第33回日本NCSLI 技術フォーラム講演会

講演会

非接続式管電圧計の校正について

一般財団法人日本品質保証機構 (JQA) 丸山真仁

講演概要

近年、医療診断に用いられるX線発生装置の精度管理において、X線管に印加される電圧いわゆる管電圧の測定も重要な項目となっている。X線発生装置から照射されたX線を測定することにより、X線管に印加されている管電圧を測定する非接続式管電圧計の校正手順を開発した。電子機器の一般的な電圧校正方法である、ケーブルを直接接続して電圧を測定する接続式管電圧計との違いや、非接続式の校正手法を紹介する。

秒の再定義に向けた状況と産総研での研究活動

国立研究開発法人産業技術総合研究所計量標準総合センター (NMIJ, AIST) 安田正美

講演概要

1967年以降、現在に至るまで、国際単位系(SI)における時間の単位である秒は、セシウム原子のマイクロ波領域の遷移周波数で定義されている。2000年頃に我が国で発明された光格子時計をはじめとする、近年の光周波数標準の性能向上により、秒の再定義の機運が高まっている。2030年開催の国際度量衡総会にて再定義決議の採択を目指している。この秒の再定義の現状を紹介するとともに、産総研における関連研究を紹介する。

交直差電流標準システムの再構築および周波数範囲の拡張

日本電気計器検定所 (JEMIC) 田中奨大

講演概要

JEMICの交直差電流標準システムは、日常的な保守と改修により安定した稼働を維持してきたが、主要機器の更新の時期を迎えている。また、JCSS校正の周波数範囲が商用周波数に限られており、より広い範囲の周波数への対応の要望されている。そこで、10kHzまでの周波数に対応したシステムを構築した。カナダの国家計量標準機関と連携し、電流範囲拡張に必要な交直分流器の評価や、新システムと同機関のシステムとの同等性検証を実施した結果、良好な整合性が得られたので報告する。

ネットワークにおける情報配線規格の重要性について

株式会社フルーク・ジャパン馬渕瑶子

講演概要

DXやIoTの進展を背景に、建物のリニューアルや産業・計測分野において高品質なLANは不可欠なインフラとなっている。通信障害の多くが物理層に起因するため、配線の品質保証はシステム全体の信頼性を左右する。本講演では、ISO/IECやJIS等の国際規格が定める性能基準と測定手法に焦点を当て、客観的なデータに基づく品質管理の重要性を解説する。

村田製作所の温度の校正について

株式会社村田製作所佐藤剛

講演概要

株式会社村田製作所横浜事業所では2020年度に温度の定点校正のJCSS認定を取得し、水の三重点からスズ点までの認定校正サービスを開始した。その後、温度範囲を亜鉛点および水銀点に拡張し校正サービスの拡充を進めてきた。本講演では横浜事業所の温度の定点校正システムの概要について紹介する。

改正日本薬局方における”はかり(天秤)”の管理に関するサービス対応(JCSS認定質量分野)

徳山計量器株式会社水戸竜司

講演概要

2024年6月第十八改正第二追補における日本薬局方(一般試験法9.62)において、国際単位系(SI)へのトレーサビリティが確保された「校正」のサービス需要が増加している。顧客は校正手法や不確かさ評価等の技術的内容も関心が高まっており、本発表は、校正証明書の実践的な説明を行うにあたっての技術的見解、また「校正」とともに定義された「性能確認(繰返し性及び正確さ)」に関する管理方法についての顧客対応の状況も報告する。

隔膜真空計の校正における熱遷移効果の高精度補正

アズビル株式会社佐藤公洋

講演概要

隔膜真空計はセンサ部を加熱して使用することが多いため、製造時にも同様に加熱して校正される。その際、真空チャンバーと標準器は室温に設置されるため製品との間に温度差による圧力差(熱遷移現象)が生じ、補正が必要となる。この熱遷移効果の測定と理論計算の結果、圧力1.4~15Pa、温度23~100℃の範囲で、校正における熱遷移の不確かさは0.1 % Reading以内と製品の精度仕様0.25% Readingを満たすことを確認した。